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接觸角測(cè)量?jī)x、全自動(dòng)接觸角測(cè)量?jī)x、光學(xué)接觸角測(cè)量?jī)x、接觸角測(cè)定儀、接觸角測(cè)試儀、水滴角測(cè)試儀、液體張力儀、線寬測(cè)量?jī)x
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力德三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x的使用
日期：2026-01-01 07:09
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摘要：
力德三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x簡(jiǎn)稱(chēng)CMM，自六十年代中期**臺(tái)問(wèn)世以來(lái)，隨著計(jì)算機(jī)技術(shù)的進(jìn)步以及電子控制系統(tǒng)、檢測(cè)技術(shù)的發(fā)展，為測(cè)量機(jī)向高精度、高速度方向發(fā)展提供了強(qiáng)有力的技術(shù)支持。
CMM按測(cè)量方式可分為接觸測(cè)量和非接觸測(cè)量以及接觸和非接觸并用式測(cè)量，接觸測(cè)量常于測(cè)量機(jī)械加工產(chǎn)品以及壓制成型品、金屬膜等?，F(xiàn)以接觸式測(cè)量機(jī)為例來(lái)說(shuō)明幾種掃描物體表面，以獲取數(shù)據(jù)點(diǎn)的幾種方法，數(shù)據(jù)點(diǎn)結(jié)果可用于加工數(shù)據(jù)分析，也可為逆向工程技術(shù)提供原始信息。掃描指借助測(cè)量機(jī)應(yīng)用PC-DMIS軟件在被測(cè)物體表面特定區(qū)域內(nèi)進(jìn)行數(shù)據(jù)點(diǎn)采集。此區(qū)域可以是一條線、一個(gè)面片、零件的一個(gè)截面、零件的曲線或距邊緣一定距離的周線。掃描類(lèi)型與測(cè)量模式、測(cè)頭類(lèi)型及是否有CAD文件等有關(guān)，狀態(tài)按紐。決定了屏幕上可選用的“掃描”選項(xiàng)。若用DCC方式測(cè)量，又具有CAD文件，那么掃描方式有開(kāi)線、閉線、面片、截面及周線掃描。若用DCC方式測(cè)量，而只有線框型CAD文件，那么可選用 開(kāi)線、閉線和面片掃描方式。若用手動(dòng)測(cè)量模式，那么只能用基本的手動(dòng)觸發(fā)掃描方式。若在手動(dòng)測(cè)量方式，測(cè)頭為剛性測(cè)頭，那么可用選項(xiàng)固定間隔、變化間隔、時(shí)間間隔和主體軸向掃描方式。
CMM按測(cè)量方式可分為接觸測(cè)量和非接觸測(cè)量以及接觸和非接觸并用式測(cè)量，接觸測(cè)量常于測(cè)量機(jī)械加工產(chǎn)品以及壓制成型品、金屬膜等?，F(xiàn)以接觸式測(cè)量機(jī)為例來(lái)說(shuō)明幾種掃描物體表面，以獲取數(shù)據(jù)點(diǎn)的幾種方法，數(shù)據(jù)點(diǎn)結(jié)果可用于加工數(shù)據(jù)分析，也可為逆向工程技術(shù)提供原始信息。掃描指借助測(cè)量機(jī)應(yīng)用PC-DMIS軟件在被測(cè)物體表面特定區(qū)域內(nèi)進(jìn)行數(shù)據(jù)點(diǎn)采集。此區(qū)域可以是一條線、一個(gè)面片、零件的一個(gè)截面、零件的曲線或距邊緣一定距離的周線。掃描類(lèi)型與測(cè)量模式、測(cè)頭類(lèi)型及是否有CAD文件等有關(guān)，狀態(tài)按紐。決定了屏幕上可選用的“掃描”選項(xiàng)。若用DCC方式測(cè)量，又具有CAD文件，那么掃描方式有開(kāi)線、閉線、面片、截面及周線掃描。若用DCC方式測(cè)量，而只有線框型CAD文件，那么可選用 開(kāi)線、閉線和面片掃描方式。若用手動(dòng)測(cè)量模式，那么只能用基本的手動(dòng)觸發(fā)掃描方式。若在手動(dòng)測(cè)量方式，測(cè)頭為剛性測(cè)頭，那么可用選項(xiàng)固定間隔、變化間隔、時(shí)間間隔和主體軸向掃描方式。
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